摘要标题：
暴露于短期 1800 MHz 射频辐射的 SH-SY5Y 细胞的氧化应激反应。
摘要来源：J Environ Sci Health A Tox Hazard Subst Environ Eng。 2018 年 1 月 28 日；53(2):132-138。 Epub 2017 年 11 月 17 日。PMID：29148897
摘要作者：Ana Marija Marjanovic Cermak、Ivan Pavicic、Ivancica Trosic
文章隶属关系：Ana Marija Marjanovic Cermak
摘要：确切的机制能否解释射频 (RF) 辐射暴露在非热水平下的影响仍然未知。越来越多的证据表明活性氧（ROS）可能与氧化应激的发生有关。为了检验所提出的假设，将人神经母细胞瘤细胞 (SH-SY5Y) 暴露于 1800 MHz 短期射频下 10、30 和 60 分钟。千兆赫横向电磁池 (GTEM) 内的电场强度为 30 V计算得出的特定吸收率 (SAR) 为 1.6 W kg。通过MTT测定测量细胞活力，并通过荧光探针2,7-二氯荧光素二乙酸酯测定ROS水平。丙二醛和蛋白质羰基的浓度用于评估脂质和蛋白质氧化损伤，并通过测量总谷胱甘肽（GSH）的浓度来评估抗氧化活性。辐射暴露后，受辐射细胞的活力保持在正常生理值内。每个辐射暴露时间观察到活性氧水平显着升高。暴露 60 分钟后，所施加的辐射造成了明显的脂质和蛋白质损伤。暴露 10 分钟后检测到最高的 GSH 浓度。我们的研究结果表明，即使在短期射频暴露后，SH-SY5Y 细胞对氧化应激的敏感性也会增强。